    嵌入式硬件测试技术课程培训

1 硬件测试概述
1.1 硬件测试的作用
1.2 硬件测试与硬件研发流程
1.3 硬件测试相关概念
（1） 时域【上升沿、保持、下降沿】
（2） 频域【带宽、频率、功率谱】
1.4 测试方法论
（1） 白盒测试
（2） 黑盒测试
（3） 软硬件协同测试
（4） 压力测试
1.5 可测试性设计（DFT）
2 硬件测试管理
2.1 测试需求分析
【测试内容从哪里来？怎么进行测试需求分析？】
2.2 测试规划及实施
【如何编写测试计划、测试方案、测试用例，并有效的实施？】
2.3 测试评价及反馈
【测试如何指导研发？如何体现测试的价值？】
2.4 硬件测试平台建设
【介绍测试平台搭建、测试规范、数据管理、bug管理】
通用性的单项参数，形成测试规范
如温度测试规范、功耗测试规范
3 硬件测试技术及案例
3.1 关键元器件的测试
【介绍关键器件的性能测试，如晶体、晶振等】
3.2 关键信号质量测试
（1） 常见信号波形问题及典型案例
【介绍常见信号波形问题，如过冲、毛刺、振铃、纹波、抖动、串扰等问题】
（2） 异常信号的产生机理、危害及消除方法
【对异常信号的产生机理进行分析，及异常信号的优化方法】
（3） 信号测试的方法
（4） 信号完整性测试
（5） 时钟源信号测试
（6） 时钟转换电路测试
3.3 电源质量测试
【重点介绍测试的内容、方法与步骤】
（1） 电源测试的主要内容、概念
【主要包括纹波、噪声、带载能力、效率、功率因数、浪涌电流等】
（2） 各个参数的测试方法
【介绍各个参数的详细测试方法】
3.4 信号时序测试
【重点介绍测试的内容、方法与步骤及结果分析】
（1） 信号时序测试概述
（2） 测试条件
（3） 覆盖范围
（4） 测试步骤
（5） 结果分析
（6） 案例介绍
3.5 典型单元电路测试
【重点介绍测试的目的、内容、方法与步骤】
（1） 单元电路测试的方法、条件及故障注入
（2） 串口测试
（3） 常用通信接口的测试
（4） 滤波电路测试
（5） 复位、WDT测试
（6） 模拟锁相环测试
（7） FPGA接口测试
（8） 电池充放电测试
（9） 保护电路测试
3.6 温升测试
【关键器件温升测试的方法及改进】
3.7 单板通用功能测试
【重点介绍测试的目的、方法与步骤】
（1） 电源及外接口上电时序测试
（2） 带电插拔测试
（3） 静态与动态功耗测试
（4） 电路安全性测试
（5） 冗余测试
3.8 环境试验及其注意事项
【重点介绍环境试验（如温度、湿度）的注意事项】
3.9 型式试验及其注意事项
【重点介绍常见硬件型式试验中的注意事项】
（1） ESD
（2） 浪涌抗扰度
（3） 脉冲群抗扰度
（4） 辐射
4 常用硬件测试仪器使用
【重点介绍常用测试仪器在硬件测试中的使用及注意事项】
4.1 示波器
4.2 频谱仪
4.3 逻辑分析仪
4.4 网络分析仪